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日本Otsuka大塚 MCPD-6800多通道波長(zhǎng)光譜儀-成都藤田科技提供 根據(jù)用途的各種檢測(cè)器的陣容 以高檔次的機(jī)型MCPD-9800為首,擁有兩個(gè)系列,共達(dá)9個(gè)波長(zhǎng)范圍的檢測(cè)器型號(hào)。 可配合客戶的需求與測(cè)量用途,選擇適合的檢測(cè)器。 測(cè)量項(xiàng)目與所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器
日本Otsuka大塚 MCPD-9800多通道波長(zhǎng)光譜儀-成都藤田科技提供 根據(jù)用途的各種檢測(cè)器的陣容 以高檔次的機(jī)型MCPD-9800為首,擁有兩個(gè)系列,共達(dá)9個(gè)波長(zhǎng)范圍的檢測(cè)器型號(hào)。 可配合客戶的需求與測(cè)量用途,選擇適合的檢測(cè)器。 測(cè)量項(xiàng)目與所對(duì)應(yīng)的檢測(cè)器
日本Otsuka大塚OPTM series顯微分光膜厚儀-成都藤田科技提供 MINUK可評(píng)價(jià)nm級(jí)的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
日本Otsuka大塚ZETA分子量測(cè)試系統(tǒng)ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評(píng)價(jià)nm級(jí)的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測(cè)試系統(tǒng)ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評(píng)價(jià)nm級(jí)的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
日本Otsuka大塚ZETA電位測(cè)試系統(tǒng)ELSZneo-成都藤田科技提供 MINUK可評(píng)價(jià)nm級(jí)的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦,可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。
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