日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供
MINUK可評價(jià)nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。

產(chǎn)品型號：

更新時(shí)間：2025-02-21

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：175

服務(wù)熱線

19938139269（馬經(jīng)理）

立即咨詢

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

相關(guān)文章

產(chǎn)品介紹

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供

核心對比與OPTM優(yōu)勢：

OPTM系列：基于分光干涉法，結(jié)合顯微光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)反射率分析，支持超薄膜（1nm）與復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)，技術(shù)解決透明基板干擾。
Smart膜厚儀：側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量，但精度與功能擴(kuò)展性不及OPTM系列。

性價(jià)比優(yōu)勢：OPTM以中型設(shè)備成本提供媲美橢偏儀的精度，且操作門檻更低，軟件內(nèi)置NIST校準(zhǔn)追溯，確保數(shù)據(jù)可靠性。

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

特長

● 1臺便可實(shí)再5個(gè)樣品的連續(xù)測量

實(shí)現(xiàn)了在沒有自動(dòng)取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個(gè)樣品

可以改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測量

● 可以對應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品

● 標(biāo)準(zhǔn)測量時(shí)間1分的高度測量

自動(dòng)調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的測量位置，實(shí)現(xiàn)約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點(diǎn)擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復(fù)雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因?yàn)槊總€(gè)樣品槽都是獨(dú)立的，沒有接觸污染的風(fēng)險(xiǎn)。

● 搭載溫度梯度功能

測量范圍（理論值）

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

規(guī)格

型號	多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)
測量原理	動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
光源	高功率半導(dǎo)體激光（660nm、70mW） *1
檢出器	高感度APD
連續(xù)測量	最多5個(gè)樣品
測量范圍	0.6nm ～ 10μm
濃度范圍	0.00001 ～ 40% *2
溫度范圍	0 ～ 90℃ （具備溫度梯度功能） *3
樣品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
電壓	220V 50/60Hz、250VA
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒徑分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重疊
	逆相關(guān)數(shù) 殘差Plot
	粒徑監(jiān)測
	粒徑表示范圍（0.1 ～ 106 nm）
	分子量計(jì)算機(jī)能
	21 CFR Part11對應(yīng)*4
選配	微量樣品池（20μL開始対應(yīng)）、熒光濾光片