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日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無復雜設(shè)定，操作簡單，短時...

日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無復雜設(shè)定，操作簡單，短時...

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統(tǒng)ELSEneoSE-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...

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日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測量項目...