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日本Otsuka大塚電子SM-100智能涂層測厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量，不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量

日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚HM series 光譜光通測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學(xué)系統(tǒng)降低了...

日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。 除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。 用法 LCD ITO...

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特點 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 支持槽口對齊功能 小尺寸規(guī)格 高精度自動校準單元 自動...